型號

日本島津-Kratos公司

AXIS ULTRA DLD

主要規格

及技術指標

1. 大束斑slot模式下能量分辨率：優于0.48 eV/(Ag 3d5/2)@400 kcps；

2. 最小15μm分析區域下能量分辨率：優于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@0.65 kcps；

3. 110μm分析區域下能量分辨率：優于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@75 kcps；

4. 荷電中和系統：優于0.68 eV/(PET上O-C=O的C 1s)@15 kcps；

5. 空間分辨率：優于3 μm。

材料要求

塊體試樣兩面盡量平整，易于放置在樣品臺上，尺寸小于15*15 mm2，厚度小于4mm；粉末試樣顆粒小，易于壓片或貼在膠帶。

主要功能

及應用范圍

主要功能：利用光電效應的原理，測量輻射源（光子、電子、離子等）從樣品上打出來的光電子的動能、強度及其角分布，從而研究原子、分子、聚集相，尤其是固體表面的電子結構等。

應用范圍：用于各種有機和無機固體材料的表面元素和其價態的定性、定量分析，表面元素的化學成像及深度剖析。

測試項目

300元/樣 （5元素內，超出加收50-100元，注：5元素中包括C）

其它要求另外商談。