(X-ray Photoelectron Spectroscopy) u XPS的發(fā)展X射線光電子能譜（XPS）也被稱作化學分析電子能譜（ESCA）。該方法首先是在六十年代由瑞典科學家K.Siebabn 教授發(fā)展起來的。這種能譜最初是被用來進行化學元素的定性分析，現(xiàn)在已發(fā)展為表面元素定性、半定量分析及元素化學價態(tài)分析的重要手段。此外，配合離子束剝離技術(shù)和變角…

在當代迅速發(fā)展的科學技術(shù)中，科學家需要觀察、分析和正確的解釋在一個微米或亞微米范圍內(nèi)所發(fā)生的現(xiàn)象，掃面電鏡是強有力的儀器，可用來觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、亞微米局部范圍內(nèi)的表面特征。在掃描電鏡中，人們最感興趣的信號是二次電子和背散射電子，因為當電子束在樣品表面掃描時，這些信號隨表…

XRD即X-Ray Diffraction（X射線衍射）的縮寫。X射線衍射是一種通過儀器進行檢測的光學分析法，將單色X射線照到粉晶樣品上，若其中一個晶粒的一組面網(wǎng)取向和入射X射線夾角為θ時，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射。樣品中有多個晶粒并滿足衍射。通過使用粉晶衍射儀的探測器以一定的角度繞樣品旋轉(zhuǎn)，接收到粉晶中不同網(wǎng)…

請簡要說明樣品基本信息樣品里面有什么，使用過何種合成手段，合成目的是什么，否則的話有可能判斷失誤請盡可能多的提供樣品信息 有些人擔心樣品測試過程中實驗信息泄密，因此不想將合成過程或樣品信息寫出。我們理解這種擔心，所以我們不說：“這種擔心毫無必要。” 但是，樣品檢測還是需要獲知最基本的樣品信息，諸如樣品里…

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