型號(hào)

 帕納科

X’Pert PRO

主要規(guī)格

及技術(shù)指標(biāo)

功率：3Kw

測(cè)角儀重現(xiàn)性：0.0001度

發(fā)散度：<0.01度

最小步長(zhǎng)<0.0001度

測(cè)角儀的精確度<0.0001度

材料要求

主要功能

及應(yīng)用范圍

 高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù)，半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制，可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析， X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導(dǎo)體、LED、薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。

收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)

廣角測(cè)試（5-90度）        50元/樣

小角測(cè)試（0.5-5度）        100元/樣